日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀

產(chǎn)品型號(hào)： PVE-80

所屬分類(lèi)：其他設(shè)備

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-07

簡(jiǎn)要描述：日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀PVE-80
一種非接觸式電阻測(cè)量系統(tǒng)，使用脈沖電壓激勵(lì)方法作為測(cè)量原理，可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量。

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日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀PVE-80

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 一種非接觸式電阻測(cè)量系統(tǒng)，使用脈沖電壓激勵(lì)方法作為測(cè)量原理，可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量。

• 節(jié)省空間的設(shè)計(jì)主體外殼，便攜式可移動(dòng)臺(tái)

• 通過(guò)PC（軟件）進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)量操作，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和管理

• 測(cè)量顯示單元可以根據(jù)應(yīng)用（薄層電阻，電導(dǎo)率，電導(dǎo)率）進(jìn)行更改

  *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開(kāi)發(fā)的脈沖電壓激勵(lì)方法（專(zhuān)li號(hào)5386394）。

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

與新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）與
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
與化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查詢）請(qǐng)給我）

測(cè)量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測(cè)量范圍

50μ?1mΩ/平方